Expertises > Secteur Microscopie Electronique au LaSIE - Université de La Rochelle
La Microscopie Electronique au LaSIE
Le secteur de la microscopie électronique participe à la recherche dans plusieurs projets des équipes BVD, TDVM et DMPR à travers des études structurales, cristallographiques, topographiques et chimiques d’échantillons solides. Les analyses se font en mode haut vide et en mode environnemental, et peuvent être associées à des techniques telles que l’EDS, l’EBSD et la déformation in-situ.
Deux microscopes électronique à balayage (MEB)
FEI Quanta 200 ESEM/FEG Environnemental |
JEOL JSM 5410 (haut vide) |
| Canon FEG Résolution 3 nm Plage de pression de travail : 10-5-200 Pa |
Canon Tungstène Résolution 35 nm . |
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Caractéristiques :
- Tension d’accélération : 1 – 30 kV, pas de 0.1 kV
- Enregistrement d’images numériques
- Analyses : EDS, EBSD, platine de traction in-situ, platine Peltier
Exemples d’analyses :
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| Fleur de gypse Image SE (Relief) |
Spectre d’analyse chimique (analyse EDS) |
Cartographie EBSD d’un alliage de Zr et figures de pôle | Béton Image SE x1000 |
Béton Image SE x8000 |
Un microscope électronique à transmission (MET)
JEOL JEM 2011
Caractéristiques :
- Tension d’accélération : 200 kV
- Canon : LaB6
- Analyse chimique EDS
- Résolution : 0.25 nm
- Enregistrement numérique d’images
Exemples d’analyses :
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| Diffraction et champs sombres de précipités d’hydrures de Titane |
Précipité et dislocation dans un alliage de Zr |
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Contacts
Dr Egle CONFORTO, Tél : 05 46 45 86 17, egle.conforto@univ-lr.fr (Ingénieur de Recherche)
Guillaume LOTTE, Tél : 05 46 45 86 40, guillaume.lotte@univ-lr.fr (Assistant Ingénieur)
publie le jeudi 9 juillet 2020