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La Microscopie Electronique au LaSIE

Le secteur de la microscopie électronique participe à la recherche dans plusieurs projets des axes A2, B1 et B2 à travers des études structurales, cristallographiques, topographiques et chimiques d’échantillons solides. Les analyses se font en mode haut vide et en mode environnemental, et peuvent être associées à des techniques telles que l’EDS, l’EBSD et la déformation in-situ.

Deux microscopes électronique à balayage (MEB)

FEI Quanta 200 ESEM/FEG Environnemental

JEOL JSM 5410 (haut vide)

Canon FEG
Résolution 3 nm
Plage de pression de travail : 10-5-200 Pa
Canon Tungstène
Résolution 35 nm
.
Caractéristiques :
  • Tension d’accélération : 1 – 30 kV, pas de 0.1 kV
  • Enregistrement d’images numériques
  • Analyses : EDS, EBSD, platine de traction in-situ, platine Peltier
Exemples d’analyses :

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Fleur de gypse
Image SE
(Relief)
Spectre d’analyse chimique
(analyse EDS)
Cartographie EBSD d’un alliage de Zr et figures de pôle Béton
Image SE
x1000
Béton
Image SE
x8000

Un microscope électronique à transmission (MET)

JEOL JEM 2011

Caractéristiques :
  • Tension d’accélération : 200 kV
  • Canon : LaB6
  • Analyse chimique EDS
  • Résolution : 0.25 nm
  • Enregistrement numérique d’images

Exemples d’analyses :

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Diffraction et champs sombres
de précipités d’hydrures de Titane
Précipité et dislocation
dans un alliage de Zr

Contacts

Dr Egle CONFORTO, Tél : 05 46 45 86 17, egle.conforto@univ-lr.fr (Ingénieur de Recherche)

Guillaume LOTTE, Tél : 05 46 45 86 40, guillaume.lotte@univ-lr.fr (Assistant Ingénieur)

publie le jeudi 7 juillet 2016